電阻膜測(cè)厚儀的測(cè)量原理及產(chǎn)品檢測(cè)優(yōu)勢(shì)

發(fā)布日期：2022-11-07      瀏覽次數(shù)：789

電阻膜測(cè)厚儀的測(cè)量原理及產(chǎn)品檢測(cè)優(yōu)勢(shì)

將恒定電流通過待測(cè)導(dǎo)電物體的部分，將該部分內(nèi)一定距離處產(chǎn)生的電壓轉(zhuǎn)換為膜厚。
將四個(gè)引腳（探針）放在印刷電路板上的銅箔上。銅箔的厚度可以通過將電流施加到兩個(gè)外部探針并測(cè)量?jī)蓚€(gè)內(nèi)部探針之間產(chǎn)生的電位差來獲得。



電阻膜厚測(cè)試儀的特點(diǎn)

• 在測(cè)量印刷電路板用銅箔的厚度時(shí)，如果銅箔是單層的，可能使用渦流測(cè)厚儀無法測(cè)量。
  電阻法僅對(duì)表層施加電流并測(cè)量銅箔的厚度，因此可以精確測(cè)量而不受下層的影響。

使用示例

• 測(cè)量多層板表面銅箔的厚度

• 非金屬上金屬薄膜的厚度測(cè)量

相關(guān)產(chǎn)品介紹



電阻膜厚儀RST-231的特點(diǎn)

1.在 0.7 秒內(nèi)測(cè)量絕緣體上的金屬薄膜

絕緣體上的金屬薄膜（銅箔、印刷電路板上的鍍層等）可以
在短時(shí)間內(nèi)（0.7秒）以高精度測(cè)量。

2.易于閱讀的屏幕配置

使用個(gè)人計(jì)算機(jī)時(shí)，屏幕大、明亮且易于查看。

3.易于校準(zhǔn)和測(cè)量

易于校準(zhǔn)和測(cè)量。可以選擇兩個(gè)測(cè)量范圍（2 至 24 μm、10 至 120 μm）。

4.各種圖表立即可見

直方圖、配置文件和 xR 圖表在統(tǒng)計(jì)處理后始終可用。

5.異常值檢測(cè)功能

如果設(shè)置了膜厚的上限和下限，則會(huì)通知異常值。

6.簡(jiǎn)單的統(tǒng)計(jì)處理

每個(gè)通道都可以保存測(cè)量數(shù)據(jù)，以后可以為測(cè)量數(shù)據(jù)設(shè)置統(tǒng)計(jì)項(xiàng)目進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理。

7.最多可注冊(cè) 40 個(gè)頻道

最多可注冊(cè) 40 個(gè)頻道，因此您可以通過用戶名、部件號(hào)等分別注冊(cè)頻道來管理頻道。